Análisis de Superficie

Operando desde 1969, la empresa tiene más de medio siglo de experiencia en el desarrollo de equipos para análisis de superficies.

Como innovadores que desarrollaron un influyente espectrómetro de electrones Auger (AES) como primer producto, continúan dando forma al campo con herramientas de vanguardia para servir a los tres principales métodos de análisis de superficies.

Los desarrollos recientes incluyen su sistema Genesis XPS, que reúne todas las tecnologías de análisis de superficies necesarias para la investigación de baterías en una única plataforma avanzada.

Milexia se enorgullece de conectar a sus clientes con PHI como una fuente única e integral de equipos líderes de análisis de superficies, que cubre TOF-SIMS, AES y XPS con igual calidad. Los usuarios pueden beneficiarse de ingenieros de ventas, capacitación y mantenimiento, todos capacitados directamente por un solo fabricante y con amplia experiencia en sistemas PHI.

Como resultado, los clientes de Milexia tienen la máxima confianza de que están asegurando el máximo rendimiento de su equipo de análisis de superficies.

Ha sido diseñado con un espíritu de ‘sin compromiso’, logrando el máximo rendimiento analítico para los usuarios.

Utiliza un diseño sinérgico para integrar con éxito múltiples tipos de resolución en un modo de análisis HR2 unificado y fácil de usar. Los usuarios se benefician simultáneamente de excelentes resoluciones laterales y masivas.

La tecnología patentada de espectrómetro de masas ofrece alta resolución y precisión de masas en todo el rango, produciendo imágenes incomparables incluso para las muestras más topográficas.

El nanoTOF 3 está diseñado para ofrecer eficacia y facilidad de uso, sin compromiso entre ambos. Entre una función de rotación de muestras de 5 ejes en la misma etapa, además del control activo de la temperatura, una potente integración de software y flujos de trabajo automatizados, el análisis es rápido y confiable.

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Los usuarios pueden obtener información química y sobre el estado elemental a nanoescala, así como a través de películas e interfaces delgadas.

Este instrumento funciona utilizando una serie de características tecnológicas únicas. Estos incluyen un cañón de electrones coaxial y una geometría de analizador, lo que permite una caracterización completa de la microestructura.

Los mapas Auger se construyen utilizando datos de todos los lados de la muestra, creando composiciones significativas, así como imágenes de muestras curvas y texturizadas sin sombras.

Los usuarios de análisis de superficies AES tendrán acceso a un aumento de hasta 500.000x y una variedad de capacidades de perfilado de profundidad. Las altas energías del haz de iones y los voltajes de aceleración más bajos permiten obtener imágenes precisas y detalladas de estructuras a niveles micro y nano.

Como todos los productos de análisis de superficies PHI, cuenta con el respaldo de potentes paquetes de software integrados en Windows diseñados para espectroscopia de alto rendimiento.

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Milexia customers can access excellent X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) performance capabilities through the PHI Genesis, a fully automated scanning XPS/HAXPES microprobe with multi-technique scanning.

At its core is PHI’s patented micro-focused, monochromatic scanning X-ray source, offering high throughput and sensitivity. This is across both large area and small samples, for which the PHI Genesis offers market-leading sensitivity, as low as 5 µm. The Genesis XPS microprobe supports advanced material study with a range of sputter ion sources, multiple excitation sources, and streamlined sample treatment and transfer functionality.

The system is built to deliver XPS surface analysis performance in a highly accessible and adjustable format, with features such as auto tuning and calibration, plus multiple parking positions, enabled by intelligent automation systems.

Most importantly, this unit is highly customisable. Milexia customers can work with expert engineers to plan their configuration, bringing in custom adjustments and accessories to perfectly align with the needs of their project.

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