Distribuyendo y manteniendo equipos de instrumentación científica durante casi 40 años

Milexia Francia distribuye y realiza el mantenimiento de equipos de instrumentación científica desde hace casi 40 años en este país. También en Bélgica, ​​Luxemburgo, Suiza, y ocasionalmente, en los países del Magreb. 

Somos el socio francófono de empresas de renombre mundial: Hitachi High Tech para microscopía electrónica, FIB, Thermo Scientific para microanálisis de rayos X, Sensofar para perfilometría óptica, Rigaku para difracción y equipos de análisis elemental dedicados a la industria de semiconductores. 

Podemos ofrecer a nuestros clientes soluciones completas con un único punto de contacto para ventas, aplicaciones y soporte posventa. Nos beneficiamos de una experiencia reconocida y adquirida en contacto con unidades de producción, particularmente en el campo de los semiconductores. 

Instrumentación Científica grupos de productos

Disponibilidad regional

El uso de "Todos" en este contexto restablece cualquier enfoque regional, si procede, y seguirá navegando por los productos como un usuario global, mostrando la disponibilidad en todas las regiones.

Esto incluye productos que pueden no estar disponibles en su región, por favor vea los productos individuales para más detalles.

Accesorios para SEM

Accesorios para SEM

Accesorios para dotar a sus instrumentos de Microscopía Electrónica de las funciones más avanzadas

Accesorios para TEM

Accesorios para TEM

Cámaras TEM, portamuestras para imágenes de alta calidad

Consumibles de Microscopía Electrónica

Consumibles de Microscopía Electrónica

Contamos con una amplia selección de consumibles para la preparación de muestras TEM y SEM.

Equipo de Preparación de Muestras para SEM

Equipo de Preparación de Muestras para SEM

Equipos de criogenia, recubridor de carbono para evitar la carga eléctrica y punto críticos, para tener las mejores resoluciones.

Key products:

Equipo de Preparación de Muestras para TEM

Equipo de Preparación de Muestras para TEM

Equipo de preparación de muestras para TEM

Fluorescencia de rayos X

Fluorescencia de rayos X

Lo último en microscopios espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía de propósito general micro spot para la medición y mapeo de elementos de sodio a través de uranio.

Haz de Iones Focalizados (FIB)

Haz de Iones Focalizados (FIB)

Microscopios electrónicos de barrido con haz de iones focalizados (FIB-SEM) de alta precisión con observación SEM en tiempo real

Microanálisis por rayos X (EDX) y microfluorescencia X (μXRF)

Microanálisis por rayos X (EDX) y microfluorescencia X (μXRF)

El microanálisis por dispersión de energía de rayos X es un complemento ideal del microscopio electrónico de barrido o de transmisión.

Microscopia Electrónica de Barrido (SEM)

Microscopia Electrónica de Barrido (SEM)

Microscopios SEM y VP-SEM de alta resolución (FEG-SEM) con óptica avanzada y detectores innovadores, brindan rendimiento excepcional en imagen y análisis.

Key products:

Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)

Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)

Gama completa de TEM, alta y baja tensión, para caracterizar estructura y composición química en ciencia de materiales y biología/medicina.

Milexia Partners in instrumentación científica technology

Servicios & Soporte

Contará con un excelente servicio y soporte profesional avalado por años de experiencia y comprensión de lo que necesitan nuestros clientes.
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