Accesorios para SEM
Accesorios para dotar a sus instrumentos de Microscopía Electrónica de las funciones más avanzadas
Milexia Francia distribuye y realiza el mantenimiento de equipos de instrumentación científica desde hace casi 40 años en este país. También en Bélgica, Luxemburgo, Suiza, y ocasionalmente, en los países del Magreb.
Somos el socio francófono de empresas de renombre mundial: Hitachi High Tech para microscopía electrónica, FIB, Thermo Scientific para microanálisis de rayos X, Sensofar para perfilometría óptica, Rigaku para difracción y equipos de análisis elemental dedicados a la industria de semiconductores.
Podemos ofrecer a nuestros clientes soluciones completas con un único punto de contacto para ventas, aplicaciones y soporte posventa. Nos beneficiamos de una experiencia reconocida y adquirida en contacto con unidades de producción, particularmente en el campo de los semiconductores.

Accesorios para dotar a sus instrumentos de Microscopía Electrónica de las funciones más avanzadas

Equipos no destructivos para la detección e imagen de estructuras microscópicas o defectos en el interior de semiconductores y componentes electrónicos.

Contamos con una amplia selección de consumibles para la preparación de muestras TEM y SEM.

Equipos de criogenia, recubridor de carbono para evitar la carga eléctrica y punto críticos, para tener las mejores resoluciones.

Equipo de preparación de muestras para TEM

Microscopios electrónicos de barrido con haz de iones focalizados (FIB-SEM) de alta precisión con observación SEM en tiempo real

Microscopios SEM y VP-SEM de alta resolución (FEG-SEM) con óptica avanzada y detectores innovadores, brindan rendimiento excepcional en imagen y análisis.

Gama completa de TEM, alta y baja tensión, para caracterizar estructura y composición química en ciencia de materiales y biología/medicina.

Equipos no destructivos para la detección e imagen de estructuras microscópicas o defectos en el interior de semiconductores y componentes electrónicos.