Accesorios para SEM
Accesorios para dotar a sus instrumentos de Microscopía Electrónica de las funciones más avanzadas
Instrumentación Científica
Instrumentación científica para apoyar la investigación y garantizar la calidad en la industria con los instrumentos más precisos.
Distribuyendo y manteniendo equipos de instrumentación científica durante casi 40 años
Milexia Francia distribuye y realiza el mantenimiento de equipos de instrumentación científica desde hace casi 40 años en este país. También en Bélgica, Luxemburgo, Suiza, y ocasionalmente, en los países del Magreb.
Somos el socio francófono de empresas de renombre mundial: Hitachi High Tech para microscopía electrónica, FIB, Thermo Scientific para microanálisis de rayos X, Sensofar para perfilometría óptica, Rigaku para difracción y equipos de análisis elemental dedicados a la industria de semiconductores.
Podemos ofrecer a nuestros clientes soluciones completas con un único punto de contacto para ventas, aplicaciones y soporte posventa. Nos beneficiamos de una experiencia reconocida y adquirida en contacto con unidades de producción, particularmente en el campo de los semiconductores.
Instrumentación Científica grupos de productos
Disponibilidad regional
Accesorios para TEM
Cámaras TEM, portamuestras para imágenes de alta calidad
Consumibles de Microscopía Electrónica
Contamos con una amplia selección de consumibles para la preparación de muestras TEM y SEM.
Equipo de Preparación de Muestras para SEM
Equipos de criogenia, recubridor de carbono para evitar la carga eléctrica y punto críticos, para tener las mejores resoluciones.
Key products:
Equipo de Preparación de Muestras para TEM
Equipo de preparación de muestras para TEM
Fluorescencia de rayos X
Lo último en microscopios espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía de propósito general micro spot para la medición y mapeo de elementos de sodio a través de uranio.
Haz de Iones Focalizados (FIB)
Microscopios electrónicos de barrido con haz de iones focalizados (FIB-SEM) de alta precisión con observación SEM en tiempo real
Microanálisis por rayos X (EDX) y microfluorescencia X (μXRF)
El microanálisis por dispersión de energía de rayos X es un complemento ideal del microscopio electrónico de barrido o de transmisión.
Microscopia Electrónica de Barrido (SEM)
Microscopios SEM y VP-SEM de alta resolución (FEG-SEM) con óptica avanzada y detectores innovadores, brindan rendimiento excepcional en imagen y análisis.
Key products:
Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
Gama completa de TEM, alta y baja tensión, para caracterizar estructura y composición química en ciencia de materiales y biología/medicina.
Milexia Partners in instrumentación científica technology
