Analyse de Surface

Fondée en 1969, l’entreprise dispose de plus d’un demi-siècle d’expérience dans le développement d’équipements pour l’analyse de surface.

En tant qu’innovateurs ayant conçu un pectromètre d’électrons Auger (AES) influent comme premier produit, ils continuent de façonner le domaine avec des outils de pointe pour servir les trois principales méthodes d’analyse de surface.

Les développements récents incluent leur système Genesis XPS, qui rassemble toutes les technologies d’analyse de surface nécessaires à la recherche sur les batteries dans une plateforme avancée unique.

Milexia est fier de connecter ses clients à PHI en tant que source unique et complète d’équipements d’analyse de surface de pointe, couvrant le TOF-SIMS, l’AES et le XPS avec une qualité égale. Les utilisateurs peuvent bénéficier de commerciaux, de formateurs et d’ingénieurs de maintenance tous formés directement par un seul fabricant et ayant une expérience approfondie avec les systèmes PHI.

Par conséquent, les clients de Milexia ont une confiance absolue qu’ils obtiennent des performances maximales de leurs équipements d’analyse de surface.

Il a été conçu avec une philosophie de « aucun compromis », atteignant des performances analytiques maximales pour les utilisateurs.

Il utilise une conception synergique pour intégrer avec succès plusieurs types de résolution dans un mode d’analyse HR2 unifié et facile à utiliser. Les utilisateurs bénéficient d’excellentes résolutions latérales et massiques simultanément.

La technologie brevetée de spectromètre de masse offre une résolution de masse élevée et une précision de masse sur l’ensemble de la plage, produisant une imagerie inégalée même pour les échantillons les plus topographiques.

La technologie brevetée de neutralisation de charge à double faisceau pulsé, associée à un émetteur bi-cluster avec un petit diamètre de faisceau, en fait le choix déterminant pour l’analyse des isolants et l’analyse HR2 à haut débit.

Le nanoTOF 3 est conçu pour l’efficacité et la facilité d’utilisation, sans compromis entre les deux. Avec une fonction de rotation d’échantillon à 5 axes sur la même étape, plus un contrôle actif de la température, une intégration logicielle puissante et des flux de travail automatisés, l’analyse est rapide et fiable.

En savoir plus sur le PHI nanoTOF 3

Les utilisateurs peuvent obtenir des informations sur l’état chimique et élémentaire à l’échelle nanométrique, ainsi que sur les films minces et les interfaces.

Cet instrument utilise plusieurs caractéristiques technologiques uniques. Celles-ci incluent un canon à électrons coaxial et une géométrie d’analyseur, permettant une caractérisation complète de la microstructure.

Les cartes Auger sont construites en utilisant des données provenant de tous les côtés de l’échantillon, créant des compositions significatives, ainsi que des images d’échantillons courbes et texturés sans ombre.

Les utilisateurs de l’analyse de surface AES auront accès à un grossissement allant jusqu’à 500 000x et à une gamme de capacités de profilage en profondeur. Les hautes énergies de faisceau ionique et les tensions d’accélération plus faibles permettent une imagerie précise et détaillée des structures aux niveaux micro et nano.

Comme tous les produits d’analyse de surface PHI, il est pris en charge par des packages logiciels puissants, intégrés à Windows et conçus pour la spectroscopie haute performance.

En savoir plus sur le PHI 710

Les clients de Milexia peuvent accéder à d’excellentes capacités de spectroscopie photoélectronique des rayons X (XPS) grâce au PHI Genesis, une microsonde XPS/HAXPES à balayage entièrement automatisée avec balayage multi-technique.

Au cœur de celui-ci se trouve la source de rayons X à balayage micro-focalisée et monochromatique brevetée par PHI, offrant un débit élevé et une sensibilité. Cela est valable pour les échantillons à la fois de grande surface et de petite taille, pour lesquels le PHI Genesis offre une sensibilité de pointe, aussi basse que 5 µm. La microsonde Genesis XPS prend en charge l’étude avancée des matériaux avec une gamme de sources d’ions de pulvérisation, de multiples sources d’excitation, ainsi qu’une fonctionnalité de traitement et de transfert d’échantillons rationalisée.

Le système est conçu pour offrir des performances d’analyse de surface XPS dans un format hautement accessible et ajustable, avec des fonctionnalités telles que le réglage automatique et l’étalonnage, ainsi que plusieurs positions de stationnement, grâce à des systèmes d’automatisation intelligents.

Surtout, cette unité est hautement personnalisable. Les clients de Milexia peuvent travailler avec des ingénieurs experts pour planifier leur configuration, en apportant des ajustements personnalisés et des accessoires pour s’aligner parfaitement avec les besoins de leur projet.

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