Accesorios para SEM
Accesorios para dotar a sus instrumentos de Microscopía Electrónica de las funciones más avanzadas
Instrumentación Científica
Instrumentación científica para apoyar la investigación y garantizar la calidad en la industria con los instrumentos más precisos.
Distribuyendo y manteniendo equipos de instrumentación científica durante casi 40 años
Milexia Francia distribuye y realiza el mantenimiento de equipos de instrumentación científica desde hace casi 40 años en este país. También en Bélgica, Luxemburgo, Suiza, y ocasionalmente, en los países del Magreb.
Somos el socio francófono de empresas de renombre mundial: Hitachi High Tech para microscopía electrónica, FIB, Thermo Scientific para microanálisis de rayos X, Sensofar para perfilometría óptica, Rigaku para difracción y equipos de análisis elemental dedicados a la industria de semiconductores.
Podemos ofrecer a nuestros clientes soluciones completas con un único punto de contacto para ventas, aplicaciones y soporte posventa. Nos beneficiamos de una experiencia reconocida y adquirida en contacto con unidades de producción, particularmente en el campo de los semiconductores.
Instrumentación Científica grupos de productos
Disponibilidad regional
Consumibles de Microscopía Electrónica
Contamos con una amplia selección de consumibles para la preparación de muestras TEM y SEM.
Equipo de Preparación de Muestras para SEM
Equipos de criogenia, recubridor de carbono para evitar la carga eléctrica y punto críticos, para tener las mejores resoluciones.
Equipo de Preparación de Muestras para TEM
Equipo de preparación de muestras para TEM
Fluorescencia de rayos X
Lo último en microscopios espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía de propósito general micro spot para la medición y mapeo de elementos de sodio a través de uranio.
Haz de Iones Focalizados (FIB)
Microscopios electrónicos de barrido con haz de iones focalizados (FIB-SEM) de alta precisión con observación SEM en tiempo real
Microscopia Electrónica de Barrido (SEM)
Microscopios electrónicos de barrido de alto vacío y presión variable (SEM & VP-SEM) de cátodo frío o caliente de ultra alta resolución (FEG-SEM) Con sistemas innovadores de óptica electrónica y detectores de señales que ofrecen un rendimiento inigualable en imagen y análisis.
Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
Completa gama de TEM de alto y bajo voltaje para caracterizar la estructura y la composición química de las muestras en la ciencia de los materiales y las características de las células en biología o medicina
X-Ray Microanalysis (EDX) & Microfluorescence X (μXRF)
Energy dispersive X-ray microanalysis is an ideal complement to the scanning or transmission electron microscope. In the case of SEM, EDS can be complemented by WDS (wavelength dispersive X-ray microanalysis), µXRF (X-ray microfluorescence) and EBSD to access structural information.