S neox Grand Format
Avec sa course étendue de 600 × 600 mm et sa certification pour la caractérisation des semi-conducteurs, ce système garantit des performances constantes et fiables. Équipé d’une technologie avancée 3-en-1, il offre une polyvalence de mesure exceptionnelle et constitue la solution idéale pour les applications sur grands panneaux dans les secteurs des semi-conducteurs, des écrans et des PCB.
Ce produit est disponible auprès de Milexia France
Le S neox Grand Format offre une solution complète, matérielle et logicielle, pour la mesure 3D de surfaces de grands panneaux dans les secteurs des semi-conducteurs, des écrans et des circuits imprimés (PCB).
Mesures sans contrainte de poids
Des capacités de mesure sans limites
- Course étendue de 600 × 600 mm : une impressionnante course de mesure de 600 × 600 mm avec une vitesse pouvant atteindre 1 mètre par seconde.
- Portique XY en boucle fermée : des performances constantes, quel que soit le poids de l’échantillon, grâce à une conception de portique XY à boucle fermée.
Sécurité renforcée
Certifié pour la caractérisation des semi-conducteurs
- Conformité aux normes industrielles : le système a été soigneusement conçu pour répondre à plusieurs normes industrielles, notamment SEMI S2 et S8.
- Certification TÜV Rheinland : certifié par TÜV Rheinland pour garantir un niveau optimal de sécurité et de fiabilité.
Caractéristiques principales
- Course de mesure : 600 × 600 mmm
- Vitesse : 1 mètre par seconde
- Conception : portique XY en boucle fermée
- Sécurité : conforme aux normes SEMI S2 et S8, certifié TÜV Rheinland
- Technologies : trois technologies optiques intégrées pour des mesures de haute précision
Applications
- Industrie des semi-conducteur
- Industrie des écrans
- Industrie des circuits imprimés (PCB)