Physical Electronics (PHI) nanoTOF 3

L’instrument nanoTOF 3 Parallel Imaging MS/MS de Physical Electronics (PHI), partenaire de Milexia France, a été conçu selon une philosophie « sans compromis » afin de garantir des performances analytiques optimales. Sa conception synergique optimise et combine plusieurs critères de performance pour proposer des modes d’analyse simples et efficaces.

En mode d’analyse HR2, il offre simultanément une haute résolution latérale et une haute résolution en masse. Le spectromètre de masse breveté permet une imagerie avancée des échantillons présentant une topographie complexe ainsi que l’acquisition de spectres à haute résolution de masse, avec une excellente exactitude sur l’ensemble de la gamme de masses.

Le système MS/MS intégré de PHI permet une identification fiable des pics et offre une imagerie TOF-TOF haute vitesse à plus de 8 kHz. La platine d’échantillon assure un déplacement complet sur 5 axes, avec contrôle actif de la température. La productivité est maximisée grâce à un haut niveau d’automatisation et à un logiciel intuitif.

Caractéristiques:

• Neutralisation de charge brevetée par double faisceau pulsé pour une analyse réellement clé en main des matériaux isolants
• Combinaison d’une platine éprouvée, d’un système de stockage des échantillons et d’une file d’attente logicielle pour des mesures automatisées en continu
• Émetteur à cluster de bismuth (Bi) avec un diamètre de faisceau réduit pour améliorer les analyses d’imagerie HR2 à haut débit
• Design ergonomique moderne, encombrement réduit et consommation énergétique optimisée
• Analyseur de masse MS/MS à imagerie parallèle
• LMIG 30 kV avec émetteur Bi, Au ou Ga et imagerie HR2
• Neutralisation de charge par double faisceau pulsé
• Observation optique in situ
• Système de cuisson sous vide intégré (bakeout)
• Détecteur d’électrons secondaires
• Canon à gaz 5 kV (Ar uniquement)
• Module d’injection d’oxygène
• Logiciels SmartSoft-TOF de contrôle de l’instrument et TOF-DR de traitement des données