Instrumentation Scientifique
De l’instrumentation scientifique la plus fiable pour supporter la recherche en sciences et assurer le contrôle qualité industriel.
Distribue et entretient de l’instrumentation scientifique depuis 40 ans.
Milexia France distribue et entretient de l’instrumentation scientifique depuis 40 ans en France, Belgique Wallonne, Suisse Romande, et Luxembourg et occasionnellement dans les pays du Maghreb.
Nous sommes le partenaire francophone d’entreprises de renommée mondiale, Hitachi High Tech pour la microscopie électronique, les FIB, Thermo Scientific pour la microanalyse à rayons X, Sensofar pour la profilomètrie optique, ainsi que Rigaku pour les équipements de diffraction et d’analyse élémentaire dédiés à l’industrie des semiconducteurs.
Nous sommes en mesure de proposer à nos clients des solutions complètes avec un interlocuteur unique pour la vente, les applications et le support après-vente.
Nous bénéficions d’une expérience reconnue acquise au contact des unités de production, notamment dans le domaine des semi-conducteurs.
Instrumentation Scientifique groupes de produits
Disponibilité régionale
Accessoires pour MET
Caméras pour MET, porte-échantillons cryo pour une haute qualité d’image
Equipements de préparation d'échantillons pour MEB
Préparation d’échantillons pour MEB
Equipements de préparation d'échantillons pour MET
Préparation d’échantillons pour MET
FIB
Fluorescence des rayons X
Spectrométrie de fluorescence X à dispersion d’énergie dernier cri pour la mesure et la cartographie des éléments, du sodium à l’uranium.
Microanalyse par Rayons X (EDX) & Micro fluorescence X (μXRF)
La microanalyse X par dispersion d’énergie est un complément idéal du microscope électronique à balayage ou à transmission. Dans le cas du MEB, l’EDS peut être complété par le WDS (microanalyse X par dispersion de longueur d’onde), par la µXRF (microfluorescence X) et par l’EBSD pour accéder à des informations structurales.
Microscopie Acoustique
Des équipements pour analyses non destructives et interprétations des structures microscopiques, détection des défauts des semi-conducteurs ou composants électroniques.
Microscopie Électronique à Balayage (MEB)
Microscopes électroniques à balayage standard et à pression variable (SEM & VP-SEM), ultra haute résolution à cathode froide ou à cathode chaude (FEG-SEM), avec des systèmes innovants d’optique électronique et de détection de signal offrant des performances d’imagerie et d’analyse inégalées.
Microscopie Électronique à Transmission (MET)
Une gamme de MET Haute et Basse Tensions pour caractériser la structure et la composition chimique des échantillons en science des matériaux et les caractéristiques des cellules en biologie ou en médecine
Microscopie à Force Atomique (AFM)
Microscopie infrarouge à champ proche
Profilomètrie Optique
Des profilomètres optiques 3D sans contact et des modules intégrables pour des processus qualité d’un tout autre niveau
Surface Analysis
SIMS, AES and XPS Surface Analysis equipment
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