Instrumentación Científica categorías de productos
disponibles en Ibérica
Accesorios para SEM
Accesorios para dotar a sus instrumentos de Microscopía Electrónica de las funciones más avanzadas
Consumibles de Microscopía Electrónica
Contamos con una amplia selección de consumibles para la preparación de muestras TEM y SEM.
Equipo de Preparación de Muestras para SEM
Equipos de criogenia, recubridor de carbono para evitar la carga eléctrica y punto críticos, para tener las mejores resoluciones.
Equipo de Preparación de Muestras para TEM
Equipo de preparación de muestras para TEM
Fluorescencia de rayos X
Lo último en microscopios espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía de propósito general micro spot para la medición y mapeo de elementos de sodio a través de uranio.
Haz de Iones Focalizados (FIB)
Microscopios electrónicos de barrido con haz de iones focalizados (FIB-SEM) de alta precisión con observación SEM en tiempo real
Microscopia Electrónica de Barrido (SEM)
Microscopios electrónicos de barrido de alto vacío y presión variable (SEM & VP-SEM) de cátodo frío o caliente de ultra alta resolución (FEG-SEM) Con sistemas innovadores de óptica electrónica y detectores de señales que ofrecen un rendimiento inigualable en imagen y análisis.
Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
Completa gama de TEM de alto y bajo voltaje para caracterizar la estructura y la composición química de las muestras en la ciencia de los materiales y las características de las células en biología o medicina
X-Ray Microanalysis (EDX) & Microfluorescence X (μXRF)
Energy dispersive X-ray microanalysis is an ideal complement to the scanning or transmission electron microscope. In the case of SEM, EDS can be complemented by WDS (wavelength dispersive X-ray microanalysis), µXRF (X-ray microfluorescence) and EBSD to access structural information.