Catégories de produits Instrumentation Scientifique
disponibles en France
Accessoires pour MEB
Accessoires pour MET
Caméras pour MET, porte-échantillons cryo pour une haute qualité d'image
Equipements de préparation d'échantillons pour MEB
Equipements de préparation d'échantillons pour MET
Préparation d'échantillons pour MET
FIB
Fluorescence des rayons X
Spectrométrie de fluorescence X à dispersion d'énergie dernier cri pour la mesure et la cartographie des éléments, du sodium à l'uranium.
Microanalyse par Rayons X (EDX) & Micro fluorescence X (μXRF)
La microanalyse X par dispersion d’énergie est un complément idéal du microscope électronique à balayage ou à transmission. Dans le cas du MEB, l’EDS peut être complété par le WDS (microanalyse X par dispersion de longueur d’onde), par la µXRF (microfluorescence X) et par l’EBSD pour accéder à des informations structurales.
Microscopie à Force Atomique (AFM)
Microscopie infrarouge à champ proche
Microscopie Acoustique
Des équipements pour analyses non destructives et interprétations des structures microscopiques, détection des défauts des semi-conducteurs ou composants électroniques.
Key products:
Microscopie Électronique à Balayage (MEB)
Microscopes électroniques à balayage standard et à pression variable (SEM & VP-SEM), ultra haute résolution à cathode froide ou à cathode chaude (FEG-SEM), avec des systèmes innovants d’optique électronique et de détection de signal offrant des performances d’imagerie et d’analyse inégalées.
Key products:
Microscopie Électronique à Transmission (MET)
Une gamme de MET Haute et Basse Tensions pour caractériser la structure et la composition chimique des échantillons en science des matériaux et les caractéristiques des cellules en biologie ou en médecine
Microtomographie par rayons X
La microtomographie par rayons X (µCT) est une technique d'imagerie à haute résolution qui utilise des rayons X pour créer des représentations 3D détaillées de la structure interne d'un objet de manière non destructive. En capturant plusieurs projections de rayons X sous différents angles, le système reconstruit des images en coupe transversale, permettant ainsi aux scientifiques d'analyser des matériaux, des échantillons biologiques ou des composants industriels avec une précision exceptionnelle.
Profilomètrie Optique
Des profilomètres optiques 3D sans contact et des modules intégrables pour des processus qualité d'un tout autre niveau
Key products:
Surface Analysis
SIMS, AES and XPS Surface Analysis equipment